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ロシア国内初の微小欠陥を発見する断層撮影装置がトムスク工科大学で開発される


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ロシアのトムスク工科大学の物理学者はロシア国内初となるX線放射による断層撮影装置を開発しました。

断層撮影装置では複雑な対象物の微小欠陥をスキャン、検出し、体積による化学元素の分布を復元できます。研究開発はロシアの科学技術複合体の開発の優先分野における連邦ターゲットプログラムの研究開発の支援の下で実施されました。

従来のX線断層撮影装置では密度によって材料の要素を決定します。しかしながら、密度の低い要素で構成される複合材料では、微小欠陥を発見することが困難になります。

今回設計された断層撮影装置ではX線放射の振幅、位相、波長を組み合わせることにより、低コントラスト材料の構造情報を取得できます。

Alexey Gogolev氏によると、
「現在、これらの原理に基づいた断層撮影装置は、アメリカ、ヨーロッパ、日本のいくつかの研究チームによって開発されています。ロシアにはそのような断層撮影装置はありませんでした。1つではなく4つのパラメーターを一度に追跡します。従来の数の量子に加えて、波長、振幅、および位相があります。それらは低コントラストの対象物をスキャンし、より多くの情報を発見するためのパラメーターです。」
Currently, tomographs working on these principles are developed by several research teams in the USA, Europe, and Japan. There were no such tomographs in Russia before. It supports tracking four parameters at once instead of one. Along with the traditional number of quanta, there is length, amplitude of the wave and its phase. It is the parameters that provide scanning the low-contrast objects and discovering more information.
研究者によると、現在は研究の再現性と精度を向上させる技術的な解決策発見のため、断層撮影装置のハードウェアとソフトウェアの両方の開発を続けており、そのスキャン結果を収集しているとのこと。

Tomsk Polytechnic University
ロシア連邦中部トムスク州
https://news.tpu.ru/en/news/2019/10/01/35309/


ページ公開日: 2019-10-07

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